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納米粒度zeta電位儀

更新時(shí)間:2024-01-03

訪(fǎng)問(wèn)量:3434

廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

設備型號:

簡(jiǎn)要描述:
納米粒度及zeta電位儀的密度高或粒徑大的顆粒會(huì )沉積在測量室底部。采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案,在垂直平面內測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
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   一、納米粒度zeta電位儀特征
  zeta電位儀的密度高或粒徑大的顆粒會(huì )沉積在測量室底部。ZetaCompact、采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案,在垂直平面內測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
 
  二、儀器特點(diǎn)
  1、一種模塊化工具,用于解決測量從10nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問(wèn)題,并計算膠體懸浮液的zeta電位儀。
  2、激光照明和視頻接口能實(shí)現亞微米粒子的測量。
  3、石英測量池組裝了兩對鈀電,構成*對稱(chēng)的腔室。
  4、動(dòng)態(tài)安裝,便于接入石英池。清洗后的測量池可快速準確地定位。
  5、用快速響應微探針原位測量樣品溫度。
  6、圖像分析軟件對粒子進(jìn)行全自動(dòng)跟蹤。
 
  三、使用說(shuō)明
  開(kāi)啟Zeta電位分析儀儀器(儀器的開(kāi)關(guān)在設備的后面的右上部位),按開(kāi)關(guān)后將出現“嘟嘟”聲,指示Zeta電位分析儀儀器已開(kāi)啟,開(kāi)始初始化步驟;如果Zeta電位分析儀儀器完成例程,出現第二次“嘟嘟”聲。(將再次聽(tīng)到兩次“嘟嘟”聲,說(shuō)明儀器已達到25°C的默認溫度。因為本儀器為632.8激光光源,一般需穩定30分鐘,)
 
  四、Zeta電位分析儀的測量
  1、測量粒徑前,需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(Refractive Index)、介電常數(Dielectric constant);
  2、用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側水滴,尤其是兩個(gè)塞子外側一定要去除樣品池內的氣泡,尤其是電極上氣泡如發(fā)現電極變黑,需更換;
  3、實(shí)驗室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì),不可用于測量有機分散體系;
  4、實(shí)驗室提供的樣品池測量溫度不可高于70度;
  5、使用濾紙過(guò)濾時(shí),舍去過(guò)濾后的第一滴樣品,以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池;
  6、在Zeta電位分析儀測量時(shí)需自帶:卷紙、多個(gè)注射器(5ml)、多個(gè)離心管(用于稀釋樣品)使用使用光盤(pán)。
 
  五、納米粒度zeta電位儀應用域
  1、陶瓷
  2、水泥
  3、乳濁液
  4、微乳液
  5、脂質(zhì)體
  6、水處理
  7、紙漿和紙
  8、粘土
  9、顏料
  10、生物學(xué)
  11、免疫學(xué)
  12、礦物浮選
  13、納米顆粒
  14、聚合物膠乳

納米粒度zeta電位儀

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