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晶體出現率分析儀

更新時(shí)間:2024-01-17

訪(fǎng)問(wèn)量:1283

廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

設備型號:ZMP960

簡(jiǎn)要描述:
ZMP9 60 晶體出現率分析儀是工作原理是通過(guò)專(zhuān)用高分辨率 CCD 線(xiàn)性傳感器和顯微光學(xué)掃描平臺,將顆粒圖像信息采集下來(lái)并傳輸到計算機中,用專(zhuān)門(mén)的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進(jìn)行分析。結合智能的背景分離及顆粒邊界搜索算法,將目標顆粒與背景分離,分析出各種測量參數,并通過(guò)顯示器和打印機輸出。
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ZMP9 60 晶體出現率分析儀工作原理是通過(guò)專(zhuān)用高分辨率 CCD 線(xiàn)性傳感器和顯微光學(xué)掃描平臺,將顆粒圖像信息采集下來(lái)并傳輸到計算機中,用專(zhuān)門(mén)的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進(jìn)行分析。結合智能的背景分離及顆粒邊界搜索算法,將目標顆粒與背景分離,分析出各種測量參數,并通過(guò)顯示器和打印機輸出。 

     晶體出現率分析儀具有超大測量范圍及高分辨率,同時(shí)具有直觀(guān)、可視、準確、操作簡(jiǎn)單、測量參數全面等特點(diǎn)。能夠同時(shí)測量顆粒粒度、形狀及表面顏色 的新型顆粒分析儀器。 

 產(chǎn)品介紹:ZMP960晶體出現率分析儀,可以直接對透明貼劑中析出的晶體進(jìn)行掃描,按照規定掃描范圍進(jìn)行掃描一定的面積,將其中的晶體識別出來(lái)并做數量統計。軟件可以?xún)戎霉降贸鼍w出現率。

 

 

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